Dr. Schenk GmbH

I-V 曲线跟踪器

 

Dr. Schenk I-V 曲线跟踪器在薄膜模块覆膜之前进行 I-V 曲线测量。该完全自动化系统基于一个专有的 LED 照明技术,可用于评估完整薄膜电池板上的电气特性,并探测局部变化。可通过下述测量评估电气特性:

  • 空间分辨测量
  • 波长分辨测量
  • 辐照分辨测量
I-V 曲线跟踪器
I-V 曲线跟踪器

不同于传统的闪光测试,I-V 曲线跟踪器的测量可在覆膜前联机执行,因此也可作为 GO/NO-GO 测试仪来决定是否进一步加工电池板。I-V 曲线跟踪器也可用作离线工具。

该创新解决方案将 I-V 曲线跟踪器的测量数据与之前的间接光学测量数据相关联,从而用作之前生产步骤的宝贵过程控制工具。

该系统采用三象限四点测量,优化串联和并联电阻测定结果,且在无光情况下进行正向 I-V 测量。系统配备全自动化处理和柔性机械接触机构,可整合至生产线或作为独立的工具离线使用。

3D Graph
3D Graph
2D graph
2D graph

在每个测量点 I-V 曲线跟踪器的 2D 显示旁边,I-V 曲线跟踪器软件提供直挂的 3D 图表 - 单个单元或一个单元行。

I-V 曲线跟踪器功能概览

  • 模块化系统设计
  • 可根据所有衬底尺寸和任何单元数量进行调整
  • 空间分辨率:例如尺寸为 1100 x 1300 mm 的 PV 电池板为 1760 测量面积
  • 三象限测量
  • 测量参数:Voc, Isc, Pmax, FF, Rserial, Rparallel
  • 四点测量技术
  • 高性能 LED 装置 - 使用寿命长,几乎免维护
  • 全自动系统,带加载、定位、卸载能力。
  • 机械接触机构
  • 极为耐用,便于更换探针
  • 通过以太网或数字 I/O 接口进行连接
  • 通过数字 I/O 输出 GO/NO-GO 结果(及格/不及格)
  • 通过直观的 3D 图标进行详细的测量分析
  • 广泛的数据存储功能

>> 下载宣传册

Become an inspection expert with Dr. Schenk![more]


Example of Dr. Schenk's SolarInspect

Dr. Schenk's SolarInspect is Superior Solution[more]


wrinkles in film

Dr. Schenk's "Multiplex Technology" is the basis for MIDA - Multiple Image Defect Analysis. One...[more]